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Electron-Electron Relaxation Effect on Auger Recombination in Direct Band Semiconductors

机译:直接电子对俄歇复合的电子 - 电子弛豫效应   Band semiconductors

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摘要

Influence of electron-electron relaxation processes on Auger recombinationrate in direct band semiconductors is investigated. Comparison betweencarrier-carrier and carrier-phonon relaxation processes is provided. It isshown that relaxation processes are essential if the free path length ofcarriers doesn't exceed a certain critical value, which exponentially increaseswith temperature. For illustration of obtained results a typical InGaAsPcompound is used.
机译:研究了电子-电子弛豫过程对直接带半导体中俄歇复合的影响。提供了载体-载体和载体-声子弛豫过程之间的比较。结果表明,如果载流子的自由程不超过一定的临界值,松弛过程是必不可少的,临界值随温度呈指数增长。为了说明获得的结果,使用了典型的InGaAsP化合物。

著录项

  • 作者单位
  • 年度 2001
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 {"code":"en","name":"English","id":9}
  • 中图分类

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